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第16屆光學檢測高級培訓班 

一、基本概況

培訓名稱：第16屆光學檢測高級培訓班（上海）

培訓時間：2024年11月3日-11月8日（3日報到）

培訓地點：上海光學精密機械研究所（嘉定區(qū)清河路390號）

培訓方式：線下授課，現(xiàn)場答疑

二、授課專家

沙定國，教  授，北京理工大學

林家明，教  授，北京理工大學

趙維謙，教  授，北京理工大學

陳  磊，研究員，南京理工大學

馬  臻，研究員，西安光機所

沈衛(wèi)星，高  工，上海光機所

（邀請專家名錄持續(xù)更新中）

三、授課大綱

（一）光學物理基礎知識和光學計量檢測基礎知識

1.物理光學基礎知識點

2.光學計量檢測基礎知識

3.光學檢測與校準能力

（二）光學成像系統(tǒng)性能檢測與評價

1.星點像檢驗

2.分辨率測試

3.波像差檢測

4.光學調(diào)制傳遞函數(shù)測量

5.透過率、雜光及照度分布檢測

6.光學系統(tǒng)成像質性能綜合評測

7.檢校光學成像等儀器若干診斷分析舉例

（三）光干涉技術檢測技術及應用

1.干涉測量基礎

（1）光干涉測量基礎知識

①　光干涉測量簡介

②　不同的干涉測試技術

③　干涉圖處理方法

（2）典型干涉儀

①　平面干涉儀

②　球面干涉儀

（3）干涉儀的應用

①　非球面與自由曲面檢驗

（4）波前的干涉測量方法

2.動態(tài)干涉測量技術

（1）概述

（2）環(huán)境影響及抑制

（3）單幀干涉圖處理技術

（4）動態(tài)干涉儀

（5）應用實例

3.非球面檢驗

（1）非球面概述

（2）非球面的非相干法檢驗

（3）非球面的干涉法檢驗

4.干涉測量常見問題討論

（1）干涉儀原理相關問題

（2）干涉儀測試功能、指標

（3）干涉儀的使用注意事項

（4）干涉測量應用舉例

（四）激光共焦顯微技術及其應用

1.共焦顯微技術概述

2.共焦顯微技術特點

3.典型共焦顯微鏡及傳感器

4.共焦顯微技術應用及推動行業(yè)發(fā)展

5.共焦顯微技術與其他學科的交叉

6.其他形式的共焦顯微技術

7.激光共焦顯微技術的未來與發(fā)展

（五）激光差動共焦成像/檢測新技術及應用

1.差動共焦顯微成像技術

2.差動共焦干涉測量技術

3.差動共焦多譜聯(lián)用技術

（六）特種光學元件檢測技術

1.大口徑面形檢測技術

2.超長曲率半徑/透鏡焦距檢測技術

3.強場激光元件檢測技術

4.微型光學元件檢測技術

5.衍射光學元件參數(shù)檢測技術

6.自聚焦透鏡參數(shù)檢測技術

（七）光學元件表面粗糙度、缺陷與疵病檢測技術

1.基本概念的正確理解和使用

2.表面缺陷標準

3.表面粗糙度的概念和定義

4.表面粗糙度的測量

5.表面疵病的測量

6.ISO10110/GB等光學元件技術要求及檢測標準

（八）激光納米測長技術實現(xiàn)光學角規(guī)的高精度測試傳遞溯源與光學工程應用實例

（九）專題：雜光測試

（授課內(nèi)容持續(xù)更新中）