摘要
W@t{pXwLv K<vb4!9Z9 高NA物鏡廣泛用于
光學(xué)光刻,
顯微鏡等。因此,在聚焦
仿真中最基本的就是考慮光的矢量性質(zhì)。 使用VirtualLab對(duì)這種
鏡頭進(jìn)行
光線追跡和場追跡分析非常方便。通過場追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。
相機(jī)探測器和電磁場探測器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,可以讓用戶深入了解矢量效應(yīng)。
fq(3uE]nC K)P].htw v$~ZT_"(9 4c,{Js 建模任務(wù)
)YPut. #9/S2m2\YG ./_4D} 概觀
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>qBw8t Gj- *D7X5 um=qT)/D 光線追跡仿真
:pNu$%q JPM W|JT •首先選擇“光線追跡
系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為仿真引擎。
js[H $ K*aGz8N •點(diǎn)擊Go!
nC@UK{tVa •獲得3D光線追跡結(jié)果。
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