摘要
)"( ojh E lf'1 在
干涉儀中,條紋的對(duì)比度可能取決于
光源的相干特性。例如,在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜
干涉儀中,干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過測量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度,可以得到光源的相干長度。典型的傅里葉變換
光譜通;谶@種類型的光路。
0!4;."S Kmy'z $qz(9M(m# yH`4sd 建模任務(wù)
/"~ D(bw0= {;:QY1QT D.7,xgH {?2jvv 橫向干涉條紋——50 nm帶寬
K&L9Ue VSm[80iR0 \R!.VL3Tx$ woSO4e/ 橫向干涉條紋——100 nm帶寬
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