[分享]VirtualLab：全場光學(xué)相干掃描干涉儀 [復(fù)制鏈接]

摘要 /2uQCw&x-  
C2F
0tr|  
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時(shí)才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 =tdSq"jh  
oduDA:  

圖片:1-191209152110491.png

e$/B_o7(  
15H6:_+=0  
建模任務(wù) 1cJsj  
8g/
F)~s^F  
gUax'^w;V;  
仿真干涉條紋 fys  
^HA %q8| n  
U9d:@9Y  
走進(jìn)VirtualLab Fusion D&:yMp(  
Bx~[F  

圖片:1-191209152K5539.png