切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 922閱讀
    • 0回復(fù)

    [推薦]光學(xué)斷層掃描干涉法 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5410
    光幣
    21230
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-09-23
    摘要 lNa+NtQu  
    %%uE^nX>  
    掃描干涉法是實現(xiàn)表面高度測量的技術(shù)。通過利用白色光源的低相干性，只有當(dāng)光程差在相干長度內(nèi)，干涉圖案才會出現(xiàn)。因此，它使精確微觀測量成為可能。使用一個氙燈搭建了一個邁克耳孫干涉儀，用于測量具有平滑變化前表面的樣品。 ja';NIO-  
    ow3.jHsLA  
     x6s|al  
    ozRTY9S _;  
    建模任務(wù) c:9n8skE7  
     L1 /`/  
     z"UC$  
    g;8 wP5i  
    結(jié)果 %'H