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光學(xué)測量>光譜儀 b4!(~"b. P49lE 任務(wù)/系統(tǒng)描述 .t4IR
=Z B%Dy;zdWd/ U2=5Nt5 *Eu
ca~%= 亮點 bQow,vf &4sUi K" `UMv#-Y8 復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的高性能分析 FJKt5}`8 c~b[_J) 使用嚴(yán)格算法對光柵進(jìn)行嚴(yán)格矢量分析 Lg[*P8wE ]y@9z b 說明:光源 Cq?l> NwoBM6 # 2I(0EBW w#U3h]>, dY68wW>d| ;FQAL@"Yj 說明:孔徑 t=NPo+fm Pon 2!$ s\1h=V)!H uJA8PfbD ~;QO`I=0P 說明:拋物面反射鏡 .%<oy"_ $)vljM<< F(^vD_G \$T +'2Mj|d@p 說明:光柵 DbP!wU lqR 8n?qm96 +^Eruv+F f{FW7T}O2 說明:探測器 f%` =>l iKN~fGRc g+t-<D"L5 6A;V[3 結(jié)果:3D光線追跡 ;U<;R 4 FW~Y RZ:Yu fQ=Yf
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