[分享]馬赫-澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

馬赫-澤德干涉儀

摘要

干涉測(cè)量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場(chǎng)追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。

建模任務(wù)

元件傾斜引起的干涉條紋

元件移動(dòng)引起的干涉條紋

走進(jìn)VirtulLab Fusion

VirtualLab Fusion工作流程

• 設(shè)置入射高斯場(chǎng)

• 設(shè)置組件的位置和方向
• −LPD II：位置和方向[教程視頻]
• 設(shè)置組件的非序列通道

VirtualLab Fusion技術(shù)

文件信息

應(yīng)用用例

進(jìn)一步閱讀 -基于激光的邁克爾遜干涉儀和干涉條紋觀測(cè)

-用于光學(xué)測(cè)試的Fizeau干涉儀

qq：939912426