摘要 干涉測(cè)量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場(chǎng)追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 
建模任務(wù) 
元件傾斜引起的干涉條紋 
元件移動(dòng)引起的干涉條紋 
走進(jìn)VirtulLab Fusion 
VirtualLab Fusion工作流程 −基本源模型[教程視頻]- 設(shè)置組件的位置和方向
- −LPD II：位置和方向[教程視頻]
- 設(shè)置組件的非序列通道
− 非序列追跡的通道設(shè)置[用戶案例]
VirtualLab Fusion技術(shù) 
文件信息 
應(yīng)用用例 進(jìn)一步閱讀 -基于激光的邁克爾遜干涉儀和干涉條紋觀測(cè) -用于光學(xué)測(cè)試的Fizeau干涉儀 qq：939912426 | 
