切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 901閱讀
    • 0回復(fù)

    [分享]全場光學(xué)相干掃描干涉儀 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5495
    光幣
    21639
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-03-18
    摘要 6]@|7|N>X  
    M0;t%*1  
    掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 :o.x=c B  
    q[y,J  
     ,<^tsCI