雙縫干涉實(shí)驗(yàn)最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動(dòng)性質(zhì)，是空間相干測(cè)量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點(diǎn)光源和擴(kuò)展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實(shí)驗(yàn)。我們通過檢查干涉條紋對(duì)比度的變化來研究擴(kuò)展源的相干特性。 (OqJet2{+
n{t',r50 RNdnlD#P 楊氏干涉實(shí)驗(yàn) {K9E% ,w
<yS"c5D6 >D/~|`=p 在 VirtualLab Fusion中,我們復(fù)現(xiàn)了著名的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)，并檢驗(yàn)了狹縫寬度、狹縫距離以及使用擴(kuò)展源的影響。 dNQSbp $)3PF rl%Kn^JJ~
編程一個(gè)雙縫函數(shù) yU|ji?)e
?X'*
p<`
k^pu1g=6I 給出了一個(gè)用于定義雙狹縫函數(shù)的示例片段，該函數(shù)具有可自定義的狹縫寬度和狹縫之間的距離。 f4 S@lyYF
