Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可以幫助我們回答這個問題。
光學薄膜中的公差評定是個實際問題。沒有一個好的、通用的分析技術(shù)。Essential Macleod里的一個簡單工具-Errors, 假定所有膜層中的厚度誤差都是隨機的,能夠顯示在許多薄膜中獨立控制命令不可能精確,而用其它的方法確實能夠構(gòu)造這些薄膜。實事上,公差和誤差的影響很大程度上依賴于控制技術(shù)。通過將誤差的Monte Carlo近似擴展到控制過程的實際模型中去,Simulator解決了公差問題。使用由Runsheet創(chuàng)建的控制設(shè)計, Simulator模擬沉積的控制,同時引入隨機和系統(tǒng)效應,如信號中的噪聲,加工因素的不同,材料密度誤差等等,并且顯示這些參數(shù)對最后模擬的薄膜產(chǎn)品的影響。
Simulator比簡單的監(jiān)控問題回答得更多。所有與薄膜系統(tǒng)有關(guān)的其它的參數(shù)都可以轉(zhuǎn)換成檢查模擬和它們影響的參數(shù)。Simulator的結(jié)果顯示,在沒有改變系統(tǒng)中噪聲或精度時,某一膜層的監(jiān)控過程中的一個小小改變,對DWDM應用的多腔分束器的設(shè)計中,能否引起實質(zhì)性的改進。
注:要Simulator操作正確,Runsheet提高必須也存在。QQ:2284816954 備注:光學