切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 727閱讀
    • 0回復(fù)

    [分享]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5414
    光幣
    21250
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-06-17
    摘要 i<1w*yu  
    $RKd@5XP  
     x-Z`^O  
    f b_tda",}  
    干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對(duì)干涉條紋圖的影響。 @^;WC+\0  
     'oEFNC9V  
    建模任務(wù) d Z"bc]z{  
    Os8]iNvW\  
     #0L :h ?L  
    7esG$sVj(  
    由于組件傾斜引起的干涉條紋 w])