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    [分享]用于高NA顯微鏡成像的工程化PSF [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-07-08
    顯微成像技術(shù)在最近的幾十年中得到迅速發(fā)展。 PSF(點擴(kuò)散函數(shù))通常不是像平面上的艾里斑。當(dāng)對沿縱軸定向的偶極子源進(jìn)行成像時,可以設(shè)計出一個甜甜圈形狀。 我們在VirtualLab Fusion中證明,當(dāng)偶極子源的方向發(fā)生變化時,會獲得不同的非對稱PSF(不是艾里斑)。 此外,可通過在顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入一定的相位掩模來獲得雙螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt. Exp. 2012]。通過這種工程化的PSF,甚至可以觀察到物體的微小散焦,即與傳統(tǒng)的成像方法相比,可以大大提高軸向分辨率。 我們通過在VirtualLab Fusion中應(yīng)用商業(yè)顯微鏡鏡頭(Nikon)系統(tǒng)來演示此現(xiàn)象。 9m M3Ve*  
    @ !P2f   
    使用高NA顯微鏡系統(tǒng)分析偶極子源的PSF
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    在VirtualLab Fusion中,可以直接分析偶極子源的PSF。 該實驗證明了當(dāng)偶極子源的方向改變時,PSF具有不同的形狀。 Q-w# !<L.  
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