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摘要 ,Zx0%#6 BKCiIfkZ 干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 dl)Y'DI Qp5VP@t -m zIT4 N{!i=A 建模任務(wù) Vr)S{k-Q o'aEY<mZ7 ,<_A2t 2 &J]K3w1p 元件傾斜引起的干涉條紋 QO:!p5^: |*xA8&/ t.y2ff<[U ,2oWWsC7 元件移動引起的干涉條紋 tKuwpT1Qc DCO\c9 )r?}P1J7 Dj?> <@ 走進VirtulLab Fusion HyQJXw?A: \.{$11P#
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