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    [產(chǎn)品]受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡原理 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-09-04
    摘要 Sj(F3wY  
    !"TZ:"VZU  
     8Z2.`(3c[  
                                                                           D8# on!  
    受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實現(xiàn)在生物應(yīng)用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉(zhuǎn)變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應(yīng)，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設(shè)備的基本設(shè)置。為了模擬飽和效應(yīng)，在焦點(diǎn)區(qū)域采用等效孔徑。 p=QYc)3F  
    Ih[+K#t+E  
    任務(wù)說明                                                                           Bfv.$u00p