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    [技術(shù)]干涉條紋研究 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 09-26
    干涉測量是用于精確測量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究條紋圖案，可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術(shù)，可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子：一個高質(zhì)量相干激光光源，另一個寬帶白光光源。 o AM)<#U>  
     'H'R6<z5  
    基于激光的邁克爾遜干涉儀 17!<8vIV$C  
     \C"hL(4-  
    #9q ]jjH E  
    借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀，并展示了不同配置中的干涉條紋。 GNM+sd y+  
     OTWp,$YA=  
    白光邁克爾遜干涉儀 P u,JR  
     g<Y N#  
    \mNN ) K@  
    模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀，充分考慮了光源的光譜特性（有限的相干長度）。 A_I\6&b4  
     :E2 ww`  
     
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