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    [技術]干涉條紋研究 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 09-26
    干涉測量是用于精確測量中最廣泛應用的技術之一。通過觀察和研究條紋圖案,可以判斷表面形狀質量或關于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術,可以輕松地設置和分析光學干涉儀。在這里提出兩個經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子:一個高質量相干激光光源,另一個寬帶白光光源。 0j!ke1C&C  
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    基于激光的邁克爾遜干涉儀 A?D"j7JD=L  
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    借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術建立了該邁克爾遜干涉儀,并展示了不同配置中的干涉條紋。 e9@fQ  
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    白光邁克爾遜干涉儀 MIlCUk  
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    模擬使用氙氣燈作為光源的邁克爾遜干涉儀,充分考慮了光源的光譜特性(有限的相干長度)。 @y0bU*v7  
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