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    [技術(shù)]馬赫澤德干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-12-26
    摘要 zdLVxL>87  
    M>?aa6@0  
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    b?Cmc  
    干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術(shù)。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 [^?13xMb  
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    建模任務 <CNE>@-f  
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    由于組件傾斜引起的干涉條紋 !sg%6H?}  
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    由于偏移傾斜引起的干涉條紋 ?vZWUWa  
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