切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 125閱讀
    • 0回復(fù)

    [技術(shù)]用于光學(xué)測量的菲索干涉儀 [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5487
    光幣
    21599
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-12-26
    摘要 sRe#{EuJ  
    $YGIN7_Gg  
    斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計量設(shè)備，它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。 jQ_|z@OV  
    L4/TI(MP  
     ox\B3U%`p}  
    8NAWA3^B  
    建模任務(wù) 6PQJgki  
    mcz(,u}  
    [`zbf_RyO  
     kO,VayjT  
    傾斜平面下的觀測條紋 Ky '3z"  
    (9YYv+GGd*  
     (4{ C7  
    pT ocqJ22  
    圓柱面下的觀測條紋 VNxpOoV=S  
    ;oY(I7  
    \Sq"3_m4T  
     74}eF)(me  
    球面下的觀測條紋 =~W0