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    [求助]求教：如何進(jìn)行雜散光分析？ [復(fù)制鏈接]

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    離線cxydjm1121
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    只看該作者 20樓 發(fā)表于: 2009-09-18
    我頂了
    離線cxydjm1121
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    只看該作者 21樓 發(fā)表于: 2009-09-18
    回 5樓(bird_man) 的帖子
    能不能分享一下你的tracepro學(xué)習(xí)秘笈��？真的很需要， [url=mailto:cxydjm1121@126.com]cxydjm1121@126.com[/url]
    離線opt-art
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    只看該作者 22樓 發(fā)表于: 2009-10-27
    我非常需要，很希望你能繼續(xù)貼完，或好心把資料發(fā)到我的郵箱328143914@qq.com lnR{jtWP  
    真的非常需要
    離線laserstone
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    只看該作者 23樓 發(fā)表于: 2009-12-16
    回 8樓(nicai) 的帖子
    發(fā)吧發(fā)吧
    離線lingxiao
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    只看該作者 24樓 發(fā)表于: 2010-05-05
    我很組要您的資料，任務(wù)壓下來(lái)了，祈求您的幫助。guangmingzhong@163.com
    離線wenbo008
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    只看該作者 25樓 發(fā)表于: 2010-06-25
    fenxiangle ,xiexielohuz
    離線fylxy
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    只看該作者 26樓 發(fā)表于: 2010-06-27
    關(guān)鍵在于重點(diǎn)采樣的設(shè)置。 '$%l7  
    前提已經(jīng)設(shè)置好光機(jī)模型和光機(jī)零件的表面特性。 @r/n F5  
    步驟為： JrRH\+4K  
    1.從焦面或探測(cè)器出發(fā)，倒追出得到系統(tǒng)的所有關(guān)鍵面。 wEvVL  
    2.將所有關(guān)鍵面重點(diǎn)采樣目標(biāo)設(shè)置在直接看見(jiàn)它的鏡面。調(diào)整好合適的閾值，勾上重點(diǎn)采樣的光線追擊選項(xiàng)，開(kāi)始追擊。 0^K">  
    3.追擊后，分析到達(dá)焦面的雜光組成。保留3~5個(gè)主要雜光入侵途徑，其余刪去，可極大提高追擊效率，又不妨礙追擊準(zhǔn)確性。
    離線coollwl
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    只看該作者 27樓 發(fā)表于: 2012-01-10
    很好很好，我堅(jiān)決支持。不管用什么分析軟件，方法還是一樣的。 m`^q <sj  
    頂�。�！
    離線daiwenhai
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    只看該作者 28樓 發(fā)表于: 2012-01-11
    我對(duì)nicai的軟件挺有興趣的
    離線籌鋒
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    只看該作者 29樓 發(fā)表于: 2012-07-23
    頂一下