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    [求助]使用TracePro模擬薄膜厚度改變後之透射率問題 [復(fù)制鏈接]

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    離線阿秋
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2008-04-03
    Dear各位大大................. PqJB&:ZV  
    ~7$4w# of0  
    我在做led模擬,目前遇到些瓶頸,請(qǐng)各位大大為我解答一下....... $gv3Up"U  
    9 Y-y?Y  
    以下是我的模擬資料,其模擬目的為研究薄膜厚度與透射率改變影響光強(qiáng)度(lux)之關(guān)係........ \pVmSac,  
    Ww[Xqmg  
    1.LED Chip:由substrate(300µm*300µm*100µm)及p-n junction組成(n-type為300µm *300µm*4µ ruKm_j#J  
                            m;p-type為300µm*300µm*0.3µm )。 P~H?[ ;  
        1ab_^P  
    2.基板:Sapphire substrate (藍(lán)寶石基板),Index=1.7。 Sl!#!FGI  
        hN5?u:  
    3.材料:GaN (氮化鎵),Index=2.4。 wIbxnn  
        Z?);^m|T  
    4.光源:p-n junction上下面各1 流明,共2流明。 '=Z]mi/aw  
        k"z ~>  
    5.光束:p-n junction上下面各1000 rays,共2000 rays。 |g@n'^]  
        @  gv^  
    6.監(jiān)視面:10mm*10mm之正方面。 fVXZfq6  
        @5rl;C  
    7.距離:LED Chip與監(jiān)視面之間距離為15mm。 +'ZJ]  
    dx&!RK+  
    8.模擬光源假設(shè)條件: {#_CzI.0f  
    %lbDcEsf9  
    (1)藍(lán)寶石基板其它四面(前、後、左、右)設(shè)定為全部吸收,無(wú)反射現(xiàn)象,上部無(wú)任何設(shè)定,下部設(shè)定為全反射(假設(shè)當(dāng)作一維光子晶體模擬)。 @F-InfB8.  
    aJ{-m@/ 5  
    (2)LED Chip其它四面(前、後、左、右)設(shè)定為全部吸收,無(wú)反射現(xiàn)象,上部與下部無(wú)任何設(shè)定。 .yF@Ow  
    {PTB]D'  
    9.我在p-type上再加設(shè)一層薄膜index為1.7,設(shè)定為不發(fā)光,其厚度由100nm、110nm、120nm一直到200nm,但我做研究的結(jié)果,其厚度改變,但結(jié)果卻是不變,也就是說(shuō)光強(qiáng)度並未改變,我有設(shè)important sampling,target center z為15.003,如果薄膜厚度改變,其光強(qiáng)度不變的話,與光學(xué)原理不符,請(qǐng)問我是不是在哪裡有設(shè)定錯(cuò)誤呢? z[0+9=<Y  
     
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    離線lifeng513
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2008-04-04
    光形應(yīng)該變的 總的光通量不會(huì)變 因?yàn)槟愕挠^測(cè)面相對(duì)chip足夠大