現(xiàn)代光學(xué)計量與測試(作者:楊照金,范紀(jì)紅,王雷)

發(fā)布：cyqdesign 2010-08-13 19:35 閱讀：7508
《現(xiàn)代光學(xué)計量與測試》較系統(tǒng)地介紹了光學(xué)計量測試的基礎(chǔ)理論、計量基準(zhǔn)、計量標(biāo)準(zhǔn)和光學(xué)參數(shù)測量方法，涉及光輻射、激光參數(shù)、光輻射探測器參數(shù)、光學(xué)材料參數(shù)、成像光學(xué)、微小光學(xué)和微光夜視等方面的計量與測試技術(shù)。  2Y9@[  
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《現(xiàn)代光學(xué)計量與測試》可作為從事光學(xué)計量測試工作的科技人員的業(yè)務(wù)參考書，也可作為工程光學(xué)專業(yè)和測試計量技術(shù)與儀器專業(yè)研究生教學(xué)參考書。 r%oXO]X  
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市場價: ￥ 65.00 cNRe