浙江大學(xué)光學(xué)薄膜設(shè)計軟件 jjRi* ^d9
Autofilm 1.0功能簡介 P6'1.R
Autofilm 1.0是浙江大學(xué)薄膜研究所開發(fā)的一套光學(xué)薄膜計算機(jī)輔助設(shè)計系統(tǒng)，它包括光學(xué)薄膜特性計算、優(yōu)化設(shè)計和監(jiān)控誤差模擬三大模塊。各個模塊的基本功能如下： YW,tCtI0_
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l 特性計算： 給定膜系每層的折射率和光學(xué)厚度，以及基板、入射介質(zhì)等參數(shù)，求得各個波長上的光學(xué)特性。 Q^9_' t}X
（1） 可以計算特定波長和入射角的反射率、透過率、反射位相變化、透射位相變化等特性值。 ]b:Lo
（2） 繪制透、反射率，位相變化相對于波長和入射角的曲線。 b7 ?uq9
（3） 繪制特定波長、入射角下的導(dǎo)納圖。 H7&8\ FNa
（4） 可計算有吸收、色散的膜系，系統(tǒng)提供了材料庫，用戶可自行修改材料庫中的值和新增材料。 /$xU
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l 優(yōu)化設(shè)計：給定特定波長和入射角情況下所要求的特性，求出膜系的結(jié)構(gòu)。 Y1W1=Uc uk
（1） 可以針對特定波長和角度下各種偏振狀態(tài)的反射率、透過率、位相變化、位相變化差等條件進(jìn)行優(yōu)化。 ,*TmIPNK
（2） 系統(tǒng)中提供了五種優(yōu)化合成的方法：Powell共軛法和單純形法這兩種局域搜索的方法；統(tǒng)計試驗法和遺傳算法這兩種帶有隨機(jī)性質(zhì)的搜索方法；Needle方法這種自動合成的方法。 p SH=%u>
（3） 各種優(yōu)化合成的方法可以隨時中斷并交替使用。 TVtvuvQ2K
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l 監(jiān)控誤差模擬：給定材料折射率及監(jiān)測信號誤差，用計算機(jī)模擬最后得到的膜系結(jié)構(gòu)，分析成品率。 hc(#{]].
（1） 可以針對每一層輸入折射率的誤差范圍，同時輸入總的信號監(jiān)測誤差，計算并繪制出最后的特性曲線。從曲線的離散程度可以分析出成品率的高低。 b5dD/-Vj
（2） 同時給出模擬得到的膜系結(jié)構(gòu)。
