隨著納米技術日新月異的發(fā)展，研究已深入到原子挨原子的分子級，構造具有全新特性的新結構。特別地，納米
電子領域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬的行業(yè)領域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開發(fā)利用碳納米管、
半導體納米線、分子有機電子和單電子
器件。
@?"t &h EAjo>GLI 不過，由于多方面的原因，這些微小器件無法采用
標準的測試技術進行測試。其中一個主要原因在于這類器件的物理尺寸。某些新型“超CMOS”器件的納米級尺寸很小，很容易受到測量過程使用的甚至很小電流的損壞。此外，傳統(tǒng)直流測試技術也不總是能夠揭示器件實際工作的情況。
