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    [下載]非晶態(tài)碲鎘汞薄膜的射頻磁控濺射生長及其結(jié)構(gòu)和光學(xué)特性 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2011-12-18
    關(guān)鍵詞: 射頻磁控濺射薄膜
    非晶態(tài)碲鎘汞薄膜射頻磁控濺射生長及其結(jié)構(gòu)光學(xué)特性摘要:在玻璃襯底上用射頻磁控濺射技術(shù)進(jìn)行了非晶態(tài)碲鎘汞( a2Hg Cd Te , a2MCT)薄膜的低溫生長. 采用 X 射線衍射 \HeJc:^  
    ( XRD)和原子力顯微(AFM)技術(shù)對所生長的薄膜進(jìn)行分析研究,所生長的非晶態(tài) Hg CdTe 薄膜表面平整,沒有晶粒出現(xiàn),獲得了射頻磁控濺射生長非晶態(tài) Hg CdTe 薄膜的 “生長窗口” .采用傅里葉紅外透射光譜分析技術(shù)對非晶態(tài) Hg Cd Te 薄膜進(jìn)行了光學(xué)性能研究,在 110~210μm 范圍內(nèi)研究了薄膜的透射譜線,獲得了薄膜的吸收系數(shù)(~8 ×104cm - 1) ,研究了其光學(xué)帶隙(約 0183eV)和吸收邊附近的 3 個吸收區(qū)域. b{A[\ "  
    +vh|m5"7I7  
    關(guān)鍵詞:非晶態(tài)碲鎘汞;射頻磁控濺射;光學(xué)帶隙
     
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