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    [下載]退火對(duì)射頻磁控濺射氧化鋅薄膜性能的影響 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2011-12-18
    退火對(duì)射頻磁控濺射氧化鋅薄膜性能的影響摘要:采用射頻磁控濺射技術(shù)在 SiO2 / Si 上淀積高 c軸取向的 ZnO 薄膜 ,在氧氣和氬氣的混合氣氛、 不同溫度(400~900 ℃)下進(jìn)行快速熱退火處理。利用 X2射線衍射(XRD) 、 原子力顯微鏡(AFM) 、 掃描電鏡( SEM)和透射電鏡( TEM)對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)、 形貌與界面狀態(tài)性能進(jìn)行了分析。研究結(jié)果表明 , ZnO 薄膜的晶粒尺寸隨著退火溫度的升高而增大 ,衍射峰強(qiáng)度增強(qiáng) ,峰位隨之偏移; SEM 分析顯示薄膜呈柱狀生長(zhǎng) ,表現(xiàn)出較好的 c軸取向性; TEM分析表明 ZnO 與下電極 Pt 是呈共格生長(zhǎng) ,晶格匹配很好。 J!2j]?D/e  
    *\(z"B  
    關(guān)鍵詞:快速熱退火; ZnO 薄膜; c軸取向; 透射電鏡( TEM)
    附件: 退火對(duì)射頻磁控濺射氧化鋅薄膜性能的影響.rar (343 K) 下載次數(shù):4 ,售價(jià):2光幣[記錄]
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    cyqdesign 光幣 +5 - 2011-12-18
     
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