薄膜光學(xué)與薄膜技術(shù)基礎(chǔ)（作者：曹建章）

全書(shū)系統(tǒng)而詳細(xì)地對(duì)《薄膜光學(xué)》理論體系進(jìn)行梳理，形成比較完整的《薄膜光學(xué)》理論體系，其中包括均勻介質(zhì)、非均勻介質(zhì)、吸收介質(zhì)和各向異性介質(zhì)。在《光學(xué)薄膜分類(lèi)及應(yīng)用》一篇中，理論聯(lián)系實(shí)際，力求反映國(guó)內(nèi)外光學(xué)薄膜的最新成果，并以光學(xué)薄膜產(chǎn)品作為實(shí)例。在《薄膜技術(shù)基礎(chǔ)》一篇中，比較完整地介紹各種薄膜沉積方法和各種光學(xué)薄膜檢測(cè)方法。 y