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光學(xué)設(shè)計(jì)過程 bn
6WjJ~Z+ HS'Vi9 下面是有經(jīng)驗(yàn)的光學(xué)設(shè)計(jì)者在完成特定設(shè)計(jì)任務(wù)時(shí)通常遵循的基本步驟。由于光學(xué)設(shè)計(jì)的內(nèi)在復(fù)雜性,設(shè)計(jì)過程通常復(fù)雜而且很費(fèi)時(shí)。 (npj_s!.C) 1、研究指標(biāo) j.a`N2]WE 2、選擇起點(diǎn) mOo`ZcTU 3、建立變量和約束 i'd2[A.7I 4、設(shè)置性能評(píng)價(jià)函數(shù) #QCphhG 5、優(yōu)化 iu**`WjI\ 6、評(píng)價(jià)性能 _0+0#! J! 7、重復(fù)步驟3、5、6 0![
+Q4" 8、分解元件、修改玻璃、優(yōu)化重復(fù)3、5、6 T|&[7%F3" 9、如果指標(biāo)仍不滿足,請(qǐng)返回到第二步 &aM7T_h8 10、公差與誤差預(yù)算 FYs)MO 11、光學(xué)制圖、設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu) PcB_oG g 12、裝配和檢測(cè) 01!s"wjf -(#I3h;I 1、設(shè)計(jì)過程的第一步是獲得并研究所有技術(shù)指標(biāo),包括所有光學(xué)指標(biāo),如焦距、f/#、全視場(chǎng)、封裝約束,性能目標(biāo)、環(huán)境要求等等。 xI,2LGO '65LKD 2、選擇一個(gè)有代表性的可行起點(diǎn)。 YV=QF
J' 重點(diǎn)說一下起點(diǎn)的選擇。 pEECHk =U|N=/y#hJ 在任何可能的情況下,這個(gè)起點(diǎn)應(yīng)該是最可能滿足設(shè)計(jì)技術(shù)要求的結(jié)構(gòu)。例如,如果要設(shè)計(jì)一個(gè)小視場(chǎng)、入瞳直徑為5mm的f/10單色光鏡頭,則這個(gè)鏡頭很可能采用單個(gè)元件。然而,如果要求設(shè)計(jì)寬光譜段而全視場(chǎng)為40°的f/1.2鏡頭,則解很可能是6-7個(gè)元件的雙高斯鏡頭形式。如果將單元件用于后者的設(shè)計(jì)起點(diǎn),則根本不可能得到可行的結(jié)果。 <Q|d&vDVfV 尋找良好起點(diǎn)對(duì)獲得可行結(jié)果是非常重要的。 Bq/:Nd[y ~['Kgh_; 以下是起點(diǎn)的可行來源 y@CHR hF2IW{=! (1)、使用專利 p=/m 將現(xiàn)有的專利設(shè)計(jì)作為起點(diǎn)。有很多鏡頭專利資料,將專利的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)輸入到計(jì)算機(jī)中,并用任何方式進(jìn)行處理都是合法的。 A+@&" 建立專利系統(tǒng)的目的是為了促進(jìn)發(fā)明和改革,該目的通過給發(fā)明人提供對(duì)其發(fā)明的17年專有權(quán)以鼓勵(lì)其在專利中說明實(shí)現(xiàn)發(fā)明專利的方法。因此,實(shí)際上鼓勵(lì)使用專利設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)并對(duì)其進(jìn)行處理、改進(jìn)。其目的在于能提出更好的設(shè)計(jì),那時(shí),可以公布該改進(jìn)設(shè)計(jì)并取得其專利。
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