| opturn |
2009-06-10 10:36 |
光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例2：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例
光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例 (8Q0?SZN
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參數(shù)為：500-600nm AR QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52) @W4tnM,#
]l T8Z-h@
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). \a_75^2
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設(shè)計(jì)：同Evaluation過(guò)程基本一樣，區(qū)別在于多加入了設(shè)計(jì)目標(biāo)Target的輸入.打開(kāi)Datebase窗口并單擊Target，輸入設(shè)計(jì)目標(biāo)500-600nm范圍的減反膜： D d:
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