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opturn 2009-06-10 10:36

光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例2:設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例

光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例:設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例 (8Q0?SZN  
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參數(shù)為:500-600nm AR  QWM@500,   12L     基底:GLASS(1.52) @W4tnM,#  
]lT8Z-h@  
層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). \a_75^2  
%l4;-x<e  
設(shè)計(jì):同Evaluation過(guò)程基本一樣,區(qū)別在于多加入了設(shè)計(jì)目標(biāo)Target的輸入.打開(kāi)Datebase窗口并單擊Target,輸入設(shè)計(jì)目標(biāo)500-600nm范圍的減反膜: Dd: