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  • 模擬不同折射率介質(zhì)間光學(xué)界面的反射率和透射率問題

    作者:陳晨 來源:歐熠光電 時(shí)間:2014-08-11 12:05 閱讀:19895 [投稿]
    實(shí)例描述當(dāng)界面上的折射率相比于入射(或測量)折射率數(shù)據(jù)改變時(shí),如何處理涂層。


    基于這次結(jié)果,你可以得到下面結(jié)論:

    最簡單的方法來模擬一個(gè)浸沒表面反射率問題就是使用菲涅爾損耗表面屬性。

    薄膜選項(xiàng)允許使用最全面的方法來模擬不同介質(zhì)間的涂層問題。

    應(yīng)用涂層到膠合或光學(xué)接觸表面

    當(dāng)光學(xué)界面創(chuàng)建使用膠合或光學(xué)接觸設(shè)置,那么所產(chǎn)生的界面具有兩種相同效果,如下圖所示:


    當(dāng)模擬這種類型的界面時(shí),在某些情況下使用折射定律進(jìn)行校正可能還不夠,就像穿過一個(gè)界面R/ T的比值會(huì)隨著光線是從B面到A面還是從A面到B面而改變。對(duì)于這種情況,最好的辦法是使用兩種涂層文件—每一個(gè)涂層對(duì)應(yīng)一個(gè)表面—需要在涂層文件中設(shè)置適當(dāng)?shù)娜肷湔凵渎省H肷涔饩會(huì)根據(jù)入射方向和材料的不同使用正確的涂層文件。

    說明:關(guān)于光學(xué)密度計(jì)算

    對(duì)于給定的虛部折射率值可以通過下面公式計(jì)算得到光學(xué)密度,其中“k”是折射率虛部:


    例如– 金(Au)550 nm


    JumpStart庫函數(shù)“OpticalDensityFromK()” 可以用于根據(jù)虛部指數(shù)計(jì)算光學(xué)密度。

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