[分享]VirtualLab：馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

摘要 iq?T&44&  
D(TG)X?  
zg@i7T  
x!vyjp  
干涉測量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測量。作為一個(gè)典型示例，在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對(duì)干涉條紋圖的影響。 :475FPy]  
sa _J6~  
建模任務(wù) KATf9-Sz  
=tY%`e  
3$Vx8:Rhdn  
xpCZlOld  
由于組件傾斜引起的干涉條紋 jIwN,H1$-  
/OB)