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- 注冊時間2020-06-19
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摘 要 *x`l1o [x()^{;2 斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個菲索干涉儀,并利用它測試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。 |0pBBDw E2/U']R 建模任務(wù) #Q)w$WR GKDG5u; xMGd'l? 7Qztc?XK 傾斜平面下的觀測條紋 )Zr0_b"V:e K<9MK>T qpH-P8V ~,4Znuin 圓柱面下的觀測條紋 iQj{J1V NP(?[W .4)P=*
pq5H{ 球面下的觀測條紋 2/gj@>dt (c7{dYV 2F(\
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