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    [分享]馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-04-16
    摘要 3q>"#+R.t  
     bDo'hDmW  
    干涉測(cè)量是一種光學(xué)計(jì)量的重要技術(shù)。 它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機(jī)械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測(cè)量。 作為一個(gè)典型的例程，在非序列場(chǎng)追跡的幫助下，我們?cè)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=VirtualLab',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_9">VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x，本案例清楚地展示了光學(xué)元件的傾斜和移位對(duì)干涉條紋圖案的影響。 L$xRn/\  
    (wfg84  
    建模任務(wù) kT1lOP-Bg  
    `R> O5Rv  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 cTnbI4S;  
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    Wg%-m%7O  
    元件移位引起的干涉條紋 ' 7A7HDJ  
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    文件信息 _:L*{=N  
     hLvv:C@  
    ~roHnJ>  
    QQ：2987619807
     
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