復(fù)旦大學(xué)科研團(tuán)隊(duì)發(fā)明晶圓級(jí)硅基二維互補(bǔ)疊層晶體管

發(fā)布:cyqdesign 2022-12-12 21:05 閱讀:650
傳統(tǒng)集成電路技術(shù)使用平面展開的電子型和空穴型晶體形成互補(bǔ)結(jié)構(gòu),從而獲得高性能計(jì)算能力。其密度的提高主要通過縮小單元晶體管的尺寸來實(shí)現(xiàn)。例如7nm節(jié)點(diǎn)以下業(yè)界使用極紫外光刻技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度尺寸微縮。極紫外光刻設(shè)備復(fù)雜,在現(xiàn)有技術(shù)節(jié)點(diǎn)下能夠大幅提升集成密度的三維疊層互補(bǔ)晶體管(CFET) 技術(shù)價(jià)值凸顯。然而,全硅基CFET的工藝復(fù)雜度高且性能在復(fù)雜工藝環(huán)境下退化嚴(yán)重。因此,研發(fā)與我國主流技術(shù)高度兼容的CFET器件與集成,對(duì)于自主發(fā)展新型集成電路技術(shù)具有重要意義。 w"hd_8cO  
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針對(duì)這一關(guān)鍵技術(shù),復(fù)旦大學(xué)微電子學(xué)院周鵬教授、包文中研究員及信息科學(xué)與工程學(xué)院萬景研究員創(chuàng)新地提出了硅基二維異質(zhì)集成疊層晶體管。該技術(shù)利用成熟的后端工藝將新型二維材料集成在硅基芯片上,并利用兩者高度匹配的物理特性,成功實(shí)現(xiàn)4英寸大規(guī)模三維異質(zhì)集成互補(bǔ)場(chǎng)效應(yīng)晶體管。在相同的工藝節(jié)點(diǎn)下實(shí)現(xiàn)了器件集成密度翻倍,并獲得了卓越的電學(xué)性能。北京時(shí)間2022年12月9日,相關(guān)成果以《硅和二硫化鉬異質(zhì)互補(bǔ)場(chǎng)效應(yīng)晶體管》(“Heterogeneous Complementary Field-effect Transistors Based on Silicon and Molybdenum Disulfide”)為題發(fā)表于國際頂尖期刊《自然-電子學(xué)》(Nature Electronics)。 7'0Vb !(  
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復(fù)旦大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)將新型二維原子晶體引入傳統(tǒng)的硅基芯片制造流程,實(shí)現(xiàn)了晶圓級(jí)異質(zhì)CFET技術(shù)。相比于硅材料,二維原子晶體的單原子層厚度使其在小尺寸器件中具有優(yōu)越的短溝道控制能力。 tsXKhS;/w  
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硅基二維疊層晶體管的概念、晶圓級(jí)制造與器件結(jié)構(gòu)
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研究團(tuán)隊(duì)利用硅基集成電路的標(biāo)準(zhǔn)后端工藝,將二硫化鉬(MoS2)三維堆疊在傳統(tǒng)的硅基芯片上,形成p型硅-n型二硫化鉬的異質(zhì)互補(bǔ)CFET結(jié)構(gòu)。二硫化鉬的低溫工藝與當(dāng)前硅基集成電路的后端工藝流程高度兼容,大幅降低了工藝難度且避免了器件的退化。同時(shí),兩種材料的載流子遷移率接近,器件性能完美匹配,使異質(zhì)CFET的性能優(yōu)于傳統(tǒng)硅基及其他材料。例如其反相器增益在3V供電時(shí)高達(dá)142.3 V/V ,在超低壓供電0.1V時(shí)其增益達(dá)1.2 V/V且功耗低至64pW。團(tuán)隊(duì)還驗(yàn)證了該新型器件在 “全在一”光電探測(cè)及氣體傳感中的應(yīng)用。 Myq8`/_  
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目前,基于工業(yè)化產(chǎn)線的更大尺寸晶圓級(jí)異質(zhì)CFET技術(shù)正在研發(fā)中。該技術(shù)將進(jìn)一步提升芯片的集成密度,滿足高算力處理器,高密度存儲(chǔ)器及人工智能等應(yīng)用的發(fā)展需求,助力打破國外在大規(guī)模集成電路領(lǐng)域的技術(shù)封鎖。 6^`iuC5  
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相關(guān)工作得到了科技部重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃、國家自然基金委杰出青年基金、上海市探索者計(jì)劃等項(xiàng)目的資助,以及教育部創(chuàng)新平臺(tái)的支持。 @N*|w Kc+  
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論文鏈接:https://www.nature.com/articles/s41928-022-00881-0
關(guān)鍵詞: 晶圓晶體管硅基
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