科學(xué)家實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體激光器與硅光子芯片的高效集成
硅光子學(xué)近年來已成為許多應(yīng)用領(lǐng)域的關(guān)鍵使能技術(shù),這要?dú)w功于成熟的硅工藝技術(shù)、大硅片尺寸和硅光學(xué)特性。然而,硅基材料無法有效發(fā)光,需要使用其他半導(dǎo)體作為光源。 III-V族半導(dǎo)體,即由元素周期表中III族和V族元素制成的材料是最有效的半導(dǎo)體激光源。幾十年來,它們在硅光子集成電路(PIC)上的單片集成一直被認(rèn)為是實(shí)現(xiàn)完全集成、密集的硅光子芯片的主要挑戰(zhàn)。盡管最近取得了進(jìn)展,但迄今為止,無論波長和激光技術(shù)如何,都只報道了在裸硅晶圓上生長的分立III-V激光器。 在《光科學(xué)與應(yīng)用》(Light Science & Application)雜志上發(fā)表的一篇新論文中,由法國蒙彼利埃大學(xué)Eric Tournié教授領(lǐng)導(dǎo)的一個歐洲科學(xué)家團(tuán)隊(duì)現(xiàn)已解鎖了半導(dǎo)體激光器與硅光子學(xué)的高效集成芯片和光耦合到無源光子器件中。 他們的方法依賴于三大支柱:Si-PIC設(shè)計(jì)和制造、III-V材料沉積、激光制造。為了驗(yàn)證這一概念,硅光子集成電路由嵌入二氧化硅基質(zhì)中的透明S形SiN波導(dǎo)制成。在凹陷區(qū)域中蝕刻掉SiO2/SiN/SiO2堆疊以打開用于沉積III-V材料的Si窗口。關(guān)鍵是在蝕刻后保持硅表面的高晶體質(zhì)量。選擇GaSb技術(shù)作為III-V族材料,因?yàn)樗梢酝ㄟ^設(shè)計(jì)在整個中紅外波長范圍內(nèi)發(fā)射,其中許多氣體都有其指紋吸收線。分子束外延是一種在超高真空下操作的技術(shù),用于生長半導(dǎo)體層堆疊。 科學(xué)家們之前已經(jīng)證明,這種技術(shù)可以消除通常出現(xiàn)在Si/III-V界面上并導(dǎo)致器件失效的特殊缺陷。此外,分子束外延允許發(fā)射光的激光部分與SiN波導(dǎo)精確對準(zhǔn)。最后,使用微電子工藝從外延層堆疊中產(chǎn)生二極管激光器。在這個階段,為了實(shí)現(xiàn)激光發(fā)射,必須通過等離子體蝕刻來產(chǎn)生高質(zhì)量的反射鏡。盡管工藝復(fù)雜,但這些集成二極管激光器的性能與在其天然GaSb襯底上生長的二極管激光器相似。此外,激光被耦合到波導(dǎo)中,其耦合效率符合理論計(jì)算。 科學(xué)家們總結(jié)了這項(xiàng)工作:最終器件的特殊架構(gòu)所帶來的不同挑戰(zhàn),如:硅光子集成電路制造和圖案化、圖案硅光子集成電路上的再生長、凹進(jìn)區(qū)域的蝕刻面激光加工等都被克服,以演示激光發(fā)射和光耦合到無源波導(dǎo)中,耦合效率符合理論計(jì)算。 |