由于空間光環(huán)境的復(fù)雜性,抑制雜散光對保證空間相機成像性能尤其重要,該文針對寬光譜波段成像的空間探測相機光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行雜散光分析和抑制優(yōu)化設(shè)計。通過SOLIDWORKS和TracePro的無損式數(shù)據(jù)交互建立光機模型,并從光機材料的表面特性、機械結(jié)構(gòu)、鏡片透過率等多角度優(yōu)化雜散光模型,再利用朗伯體光源分別對正反向進(jìn)行光線追跡,然后結(jié)合光機模型的半剖圖對系統(tǒng)關(guān)鍵表面進(jìn)行重點取樣分析。