對于一些
光源，例如氣體放電燈和各種
激光器，
光譜顯示出清晰定義的譜線，即具有相當(dāng)大的功率譜密度的窄光譜特征。這些與原子、離子或分子從激發(fā)態(tài)到較低電子能級的躍遷有關(guān)。
光子能量 hν=hc/λ 接近于能級差，因此能級差決定了光譜發(fā)射線的光
波長。
{kp"nl$< 有時，在連續(xù)譜的頂端會觀察到離散的發(fā)射譜線。
*i]=f6G 連續(xù)光譜也會出現(xiàn)離散的凹陷，這是由于某些波長的光被吸收造成的。這樣的吸收線通常也與電子躍遷有關(guān)，這時候從較低的能級到較高的能級。如果低能級是電子基態(tài)，則為基態(tài)吸收( GSA )，否則為激發(fā)態(tài)吸收( ESA )。例如，在太陽光這樣的吸收線已經(jīng)被觀測到(夫瑯禾費線,由約瑟夫·馮·夫瑯禾費發(fā)現(xiàn))中，并導(dǎo)致氦被發(fā)現(xiàn)在地球上之前就被發(fā)現(xiàn)。吸收譜線也可以在實驗室中進(jìn)行研究，例如用寬帶光源和光譜儀或用掃描激光吸收光譜進(jìn)行研究。
2 HpHxVJ 在激光晶體等固態(tài)介質(zhì)中也觀察到類似的吸收和發(fā)射譜線。然而，在這里，由于吸收或發(fā)射物質(zhì)與主體
材料的相互作用，其吸收和發(fā)射特性通常較寬。
h?r p|uPQ 觀測到的吸收和發(fā)射譜線往往是某些物質(zhì)的特征，因此可以作為光譜指紋，例如用于檢測大氣中的環(huán)境污染物。也可以通過它們與吸收系數(shù)的關(guān)系，利用 Beer - Lambert 定律測量濃度(或數(shù)密度)。
H GXt 有許多標(biāo)準(zhǔn)譜線經(jīng)常被用作波長參考，例如用于
光學(xué)玻璃的表征。
6qRx0"qB U F?H>Y& 譜線的寬度和形狀
}lh I\q i;NUAmx 譜線總是表現(xiàn)出有限的線寬，它可以有不同的來源:
\]&#%6|V 1在高氣壓下，碰撞是頻繁的。這導(dǎo)致譜線的碰撞增寬（或壓力增寬）。本質(zhì)上，發(fā)射原子在其輻射過程中經(jīng)常受到碰撞的干擾，因此光學(xué)相位無法在較長時間內(nèi)連續(xù)演化。
AB F"~=aL
