[分享]膜厚儀的測量原理 [復制鏈接]

膜厚儀的測量原理主要基于磁感應和電渦流原理。分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。 XO wiHW{  
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對于磁感應原理的膜厚儀，其測量過程是通過測頭將磁場引入被測物體。當測頭靠近被測物體時，磁場會經(jīng)過非鐵磁覆層并流入鐵磁基體。覆層的厚度與磁通量的大小和磁阻的變化密切相關(guān)。具體來說，覆層越厚，磁阻越大，磁通量越小。通過測量磁通量或磁阻的大小，膜厚儀能夠準確地確定覆層的厚度。這種測量方式主要適用于鋼鐵等導磁基體上的非導磁覆層厚度的測量，如油漆層、瓷、搪瓷防護層等。 8:{q8xZ=k  
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而電渦流原理的膜厚儀則是利用高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場。當測頭靠近導電基體時，會在其中形成渦流。渦流的大小與測頭離導電基體的距離成反比，即距離越近，渦流越大，反射阻抗也越大。這種反饋作用量可以用來表征測頭與導電基體之間距離的大小，即導電基體上非導電覆層的厚度。因此，通過測量反射阻抗或渦流的大小，電渦流膜厚儀能夠?qū)崿F(xiàn)對非鐵磁金屬基材上的覆層厚度的測量。