透鏡缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)

近日，國家知識產(chǎn)權局信息顯示，歌爾光學科技有限公司申請一項名為“透鏡缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)”的專利，公開號 CN 119251156 A，申請日期為2024年9月。

專利摘要顯示，本申請公開了一種透鏡缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質(zhì)，涉及頭戴顯示設備技術領域，方法包括：獲取透鏡圖像，并從所述透鏡圖像中確定目標缺陷區(qū)域；對所述目標缺陷區(qū)域進行灰度方差計算，得到計算結果；根據(jù)所述計算結果確定所述目標缺陷區(qū)域的缺陷檢測結果，其中，所述缺陷檢測結果為模糊化缺陷或非模糊化缺陷。本申請能夠確定透鏡缺陷的真實情況，以提高透鏡缺陷檢測的準確性。

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