光學薄膜設(shè)計軟件
Optilayer使用實例：評估設(shè)計曲線
r|Z3$J{^" |~`as(@Ih 例:評估一四分之一波片的
光譜特性:
|y;}zQB-dH z
/KK)u(q 參數(shù)為：QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
$,=6[T!z+e ia&AW 層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3).
@}p2aV59 RcG0 8p.) Evaluation：新建工作目錄：File_Problem，出現(xiàn)問題目錄(Problem directory),輸入目錄名稱，單擊OK.
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打開Datebase窗口并輸入基底和層材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出現(xiàn)Datebase窗口：
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v,-{Z1N%m +CH},@j 單擊Substrate或Layer Material可分別輸入基底和層材料，基底輸入：單擊NEW，輸入基底名稱，
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(s<Dd2&.H q\Q{sv_ 單擊OK,再在Re(n)欄輸入基底折射率1.52, 再單擊OK
+y7;81ND 
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q- 6=4wp? 然后在Datebase窗口雙擊GLASS或單擊選中GLASS再單擊Load。即輸入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。
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