[原創(chuàng)]光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例2：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例 [復(fù)制鏈接]

光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Optilayer使用實(shí)例：設(shè)計(jì)和優(yōu)化示例 N atC}k  
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參數(shù)為：500-600nm AR  QWM@500,   12L     基底:GLASS(1.52) e#k rr  
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層材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). eq%cRd]u  
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設(shè)計(jì)：同Evaluation過(guò)程基本一樣，區(qū)別在于多加入了設(shè)計(jì)目標(biāo)Target的輸入.打開(kāi)Datebase窗口并單擊Target，輸入設(shè)計(jì)目標(biāo)500-600nm范圍的減反膜： =>c0NT  

圖片:o1.jpg

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單擊New，輸入目標(biāo)名稱AR500-600，單擊OK.出現(xiàn)目標(biāo)輸入窗口： d9S?dx  

圖片:o2.jpg

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