切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 4573閱讀
    • 9回復(fù)

    [轉(zhuǎn)載]光學(xué)測量光學(xué)測頭的應(yīng)用與發(fā)展趨勢 [復(fù)制鏈接]

    上一主題 下一主題
    離線991518
     
    發(fā)帖
    1023
    光幣
    10925
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2010-06-09
    傳統(tǒng)的接觸式三坐標(biāo)測量機自1956年問世以來,已經(jīng)經(jīng)過了50多年的發(fā)展。目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)車間及科研部門當(dāng)中。隨著工業(yè)技術(shù)的不斷進步,對測量設(shè)備的各方面要求也不斷提高,三坐標(biāo)測量機在此過程中也經(jīng)歷了無數(shù)次的技術(shù)創(chuàng)新以適應(yīng)更高的測量要求。盡管如此,當(dāng)今三坐標(biāo)測量機依然在某些方面遇到了一定的技術(shù)瓶頸。這些瓶頸的產(chǎn)生不能簡單地歸結(jié)于技術(shù)創(chuàng)新的不足,其主因在于接觸式三坐標(biāo)測量機的硬件結(jié)構(gòu)和測量原理上的限制。 0@{bpc rc  
    $