紫外可見紅外掃描分光光度計新一代設(shè)計的 PHOTON RT 是一款專業(yè)用于檢測光學(xué)部件鍍膜特性的分光光度計,根據(jù)光譜范圍可以選擇六種配置(190-1700nm,190-2700nm,190-4500nm,380-1700nm,380-2700nm與380-4500nm)。最寬光譜范圍可從190nm-4500nm。 該儀器的設(shè)計改變了行業(yè)的測量觀念,致力于提供最簡潔、最靈活與速度最快的操作。無需任何額外附件與成本,可以實現(xiàn)寬角度的的絕對反射率與絕對透射率測量,以及實現(xiàn)偏振模式測量。 獨創(chuàng)設(shè)計的分光光度計包含參考通道,能對直徑范圍從10mm到120mm的光學(xué)部件進行測量研究。 基于光譜光度逆向工程可以測量紫外可見近紅外全光譜范圍內(nèi)薄膜材料的折射率n、吸收系數(shù)k與薄膜厚度d, 確保了強大的QA/QC分析與研究開發(fā)。 |