文章來源:Conceptual Design Phase Stray Light Analysis of the MOBIE Imaging Spectrograph for TMT
2@7f^be `FS)i7-o6 簡介 %[3?vX vNdMPulr{ 三十米
望遠(yuǎn)鏡(Thirty Meter Telescope, TMT)是由美國加州大學(xué)、加州理工學(xué)院、加拿大大學(xué)天文研究聯(lián)盟、日本國立天文臺、中國國家天文臺以及印度科技部聯(lián)合參與的21 世紀(jì)地基巨型
光學(xué)-紅外天文觀測設(shè)備。TMT的30米口徑的集光面積是當(dāng)前主流10米級大望遠(yuǎn)鏡的十倍,空間分辨率則比哈勃空間望遠(yuǎn)鏡(HST)提高一個量級,它將把望遠(yuǎn)鏡靈敏度和空間分辨率等技術(shù)指標(biāo)提高到前所未有的程度,其強(qiáng)大的洞察宇宙的能力必將引發(fā)天文學(xué)研究的飛躍發(fā)展,更清楚地揭示宇宙起源及其物質(zhì)組成、暗物質(zhì)和暗能量的本質(zhì)、地外生命與文明的存在等最重要的自然科學(xué)圖景。本文以MOBIE為背景,使用FRED軟件對其雜散光部分進(jìn)行了預(yù)評估。
2rxZN\gyL =AaTn::e/ 緒論 sKE7U>mz| Ml-GAkgG 寬視場光學(xué)光譜儀(MOBIE)是視覺受限的光學(xué)光譜儀,它是為第一代Thirty Meter
.`w[A Telescope (TMT)儀器而設(shè)計的。目前MOBIE儀器處于概念設(shè)計階段。本文記錄了成像模塊配置中雜散光分析的進(jìn)展。在項目的這一階段雜散光分析的目標(biāo)是提供預(yù)期的雜散光背景的基線評估。為此,我們完成了四個量的雜散光計算:
=Sjr*)<@j 關(guān)鍵物體的識別
?a)X)#lQ 預(yù)估雜散光背景
9gWR djK: 離軸抑制特性
S
^5EG;[ 鬼像的形成
<HYK9{Q 3K)12x$.K 分析基于一個完整的
系統(tǒng)模型(盡管簡化過)的端到端
光線追跡,包括帽型圓頂、望遠(yuǎn)鏡光學(xué)器件、支撐結(jié)構(gòu)、MOBIE儀器光學(xué)器件和外殼。
j%w}hGW%, 圖1 完整的TMT-MOBIE雜散光分析模型
Z]L_{=* <]:X TMT-MOBIE幾何模型 cXcrb4IKD \/qo2'V
j` 端到端系統(tǒng)模型如圖2所示(隱藏了圓頂壁)。MOBIE儀器的成像模塊配置如圖3所示。一對大氣色散校正(ADC)棱鏡剛好位于視場光闌孔徑的前面。視場光闌是一個彎曲的掩膜,與TMT焦面的曲率相匹配,且傳輸5.4±2.1弧分×±4.8弧分的矩形視場。視場光闌是儀器內(nèi)部主要的雜散光控制機(jī)構(gòu)。反射瞄準(zhǔn)儀(MC-1)沿著視場光闌。二色分束鏡透射和反射光線到紅色和藍(lán)色
鏡頭部件中。隨后折疊到折射式照相機(jī)裝置中。
vI84=n 圖2 圓頂內(nèi)部 SynL%Y9)|,
|4E5x9J 簡化的模型只包含可能被MOBIE儀器看到的元件
_ ^ JhncL 圖3 MOBIE儀器模型
4?eO1=a tr[(,kX 表面屬性指定 ,=Q;@Z4 vJ .(
)rby 反射鏡表面具有一層鋁涂層,平均反射率在90%。
透鏡表面具有一個理想的抗反射涂層,在每個面上反射1%的入射通量。光學(xué)表面被分配了兩個散射函數(shù)。Harvey2 BSDF模擬了由RMS微粗糙3導(dǎo)致的散射。米散射模型使用一個IEST-STD-1246D顆粒尺寸分布函數(shù)來模擬由微粒污染4,5導(dǎo)致的散射。非光學(xué)表面的處理從黑漆到光滑的白色而有所不同。
mZ%"""X\Ei %R?B=W7;Q 分析結(jié)果 l g0 'qH8
nky%Eb[\ 關(guān)鍵/照明物分析表明從視場外部進(jìn)來的光線沒有直接的路徑到達(dá)攝像頭。攝像頭捕捉到在M2和M3附近的望遠(yuǎn)鏡支撐結(jié)構(gòu)、立面軸承和圓頂?shù)装。所有這些物體由外部
光源照明,光線從圓頂?shù)捻敳炕蛘吲帕性趫A頂壁的通風(fēng)口進(jìn)入。
XIep3l* kdq<)>" 黑色圓頂內(nèi)部,到達(dá)藍(lán)色攝像頭探測器平面的雜散光占整個光通量的4%。藍(lán)色攝像頭捕捉到來自二色分束鏡的強(qiáng)烈的紅色鬼像反射。忽略這一貢獻(xiàn),背景減小為3.2%。散射光背景占2.8%。對于紅色攝像頭,在相同的條件下,到達(dá)探測器平面的雜散光占據(jù)整個光通量的3.7%。散射光背景是總的光通量的3.3%。大部分貢獻(xiàn)來自于觀察的
傳感器視場內(nèi)的光源。白色圓頂內(nèi)部在兩個成像路徑上增加了0.3%到散射光背景中。
j<* hq[:U?!Tt 圖4 PST分析結(jié)果(藍(lán)色-上;紅色-下)
@%FLT6MY \r.{Ru 圖4分別顯示藍(lán)色和紅色攝像頭PST曲線的對數(shù)間隔圖。PST分析提供了一種方法來量化望遠(yuǎn)鏡和儀器的視場之外的抑制特性。圖上的注解表明在顯示的角度范圍內(nèi)對雜散光背景最顯著的貢獻(xiàn)者。需要注意的最重要的特征是,儀器視場外沒有直接鏡像路徑到達(dá)攝像頭,對于儀器視場外部的物體來說,來自望遠(yuǎn)鏡光學(xué)器件和圓頂?shù)纳⑸湔紦?jù)了幾乎所有的雜散光背景。
NE~R&ym9 ^<$$h 圖5顯示了來自位于視場內(nèi)部光源方向的攝像頭傳感器平面的對數(shù)間隔鬼像輻照度圖。ADC棱鏡在主圖的上部和下部產(chǎn)生了圖像偽影。藍(lán)色攝像頭從二色分束鏡捕捉了一個強(qiáng)烈的紅色反射,覆蓋到了直接成像上去。
g$^:2MT"aQ ~8oti4 ?'xwr)v yuef84~ 圖5 鬼像輻照度(藍(lán)色-上;紅色-下)
7%MD0qm- 9~rrN60Q 總結(jié) T"bH{|:%*= LMGo8%2I TMT/MOBIE儀器成像模型配置的一個初步雜散光分析已經(jīng)完成。包括圓頂、望遠(yuǎn)鏡和儀器的核心部件的復(fù)雜光機(jī)模型已經(jīng)構(gòu)建。分析表明,雜散光背景由光學(xué)表面貢獻(xiàn)主導(dǎo),特別是來自于儀器視場內(nèi)的光源。圓頂內(nèi)部結(jié)構(gòu)對雜散光背景的貢獻(xiàn)在一個相對比較低的水平。
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